CKX53倒置顯微鏡使用防塵罩是保證顯微鏡處于良好機械和物理狀態的重要的因素。CKX53倒置顯微鏡的外殼如有污跡，能用乙醇或肥皂水來清潔=但切勿讓這些清洗液滲入顯微鏡內部，造成顯微鏡內部電子部件的短路或燒毀。
保持顯CKX53倒置顯微鏡使用場地的干燥，盡管每臺徠卡系列顯微鏡均采用了特殊的防霉處理工藝，但當顯微鏡長期工作在濕度較大的環境中，還是容易增加霉變的幾率，因此如顯微鏡不得不工作在這些濕度較大的環境中，建議使用除濕機。
另外，如發現光學元件表面有霧狀，霉斑等不良情況時，請立刻聯系徠卡專業人士，對您的顯微鏡進行專業維護保養。
1、明視野法
觀察試樣直接反射光的方法。照明燈的光通過物鏡垂直導向而入射于試樣，來自試樣的直接反射光通過CKX53倒置顯微鏡物鏡即被觀察到。
2、暗視野法
觀察試樣干涉及衍射光的方法。照明光線通過物鏡外圍斜射于試樣，來自試樣的干涉及衍射光即被觀察到。
適用檢測試樣上微細的擦痕或裂痕、檢測晶片等試樣鏡狀表面。
3、微分干涉對比法
這是將用明視野法可能觀察不到的試樣高度微小差異通過改善對比法變為立體或三維圖像的顯微觀察技術。照明光由微分干涉對比棱鏡變為兩束衍射光。這兩束衍射光使試樣高度差異造成在光路上的微小差異，而光路差異變為利用微分干涉對比棱鏡和檢偏振器的明暗對比。
再利用敏感色板，加強了高度差異的顏色變化。
適合檢測包括金相結構、礦物、磁頭、硬磁盤表面和晶片精制表面等有極其微細高度差異的試樣。
4、偏振光法
這是使用由兩個一組的濾色鏡形成偏光的顯微觀察技術。這些偏光軸始終保持相互垂直。一些試樣在兩個濾色鏡之間呈鮮明的對比。或根據雙折射性能和定向呈現顏色。在檢偏振器插在目鏡前的觀察光路時，起偏振器位于垂直照明前面的光路。
適合觀察金相結構，礦物和液晶(LCD)以及半導體材料。
5、熒光法
本技術用于發出熒光的試樣。
適合利用熒光法檢測晶片的污染，感光性樹脂的殘留物，以及檢測裂縫。
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更新時間：2018-12-20 
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